Каталог документов NormaCS
ОСТ 11 050.068-83 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Метод контроля дефектов структуры приповерхностных слоев пластин
| ОСТ 11 050.068-83 входит в следующие классификаторы и разделы | |
| Классификатор ISO | 31 ЭЛЕКТРОНИКА → 31.200 Интегральные схемы. Микроэлектроника |
ОСТ 11 050.068-83 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Метод контроля дефектов структуры приповерхностных слоев пластин
Статус: Информация о статусе доступна в коммерческой версии NormaCSУтвержден: Минэлектронпром СССР; МЭП СССР, 01.01.1983
Обозначение: ОСТ 11 050.068-83
Наименование: Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Метод контроля дефектов структуры приповерхностных слоев пластин
Комментарий: ОБРАТИТЕ ВНИМАНИЕ:Документ из неофициального источника. Дополнительную информацию см. "Примечания".
Дополнительные сведения: доступны через сетевой клиент NormaCS. После установки нажмите на иконку рядом с названием документа для его открытия в NormaCS
Пожалуйста, дождитесь загрузки страницы...